ГОСТ 22372-77 Материалы диэлектрические. Метод определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10_(6) Гц.
ГОСТ 22372-77
(СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81)**
_________________________
** Обозначение стандарта.
Измененная редакция, Изм. N 1.
Группа Э19
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
Методы определения диэлектрической проницаемости
Dielectric materials. Methods of determination of permittivity and powerfactor with
Дата введения 1978-01-01
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 18 февраля 1977 г. N 424 срок действия установлен с 01.01 1978 г. до 01.01 1983 г.*
ВЗАМЕН ГОСТ 9141-65, ГОСТ 13671-68
ПЕРЕИЗДАНИЕ. Ноябрь 1978 г.
ВНЕСЕНО Изменение N 1, введенное в действие Постановлениями Госстандарта СССР от 22.02.83 N 887, 904 с 01.07.83
Методы испытаний, приведенные в настоящем стандарте, применимы в интервале температур от минус 60 до плюс 250 °С.
Стандарт не распространяется на диэлектрические материалы в виде пленок толщиной менее 0,015 см.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81 (см. справочное приложение 2).
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1. МЕТОДЫ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ
1.1. Порядок отбора, способ обработки и число образцов для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть указаны в стандартах или другой нормативно-технической документации на испытуемый материал. При отсутствии таких указаний число образцов должно быть не менее трех.
1.2. Образцы для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть изготовлены в виде круглых, квадратных пластин или цилиндрических трубок.
1.3. Поверхность образца должна быть ровной, гладкой, без трещин, складок, вмятин, царапин, посторонних включений и других дефектов. При необходимости поверхность образца должна быть очищена растворителем, не влияющим на свойства материала.
1.4. Толщина и площадь испытуемых образцов должны быть такими, чтобы емкость конденсатора, полученная после нанесения электродов на испытуемый образец, была достаточной для определения диэлектрической проницаемости с погрешностью не более ±4%. При этом диаметр или ширина плоского образца должны быть от 2,5 до 15 см, а длина трубчатого образца - от 10 до 30 см. Во всех случаях отношение диаметра образца к его толщине должно быть не менее 10.
1.4, 1.5 (Измененная редакция, Изм. N 1).
1.6. Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь материала должно проводиться на одном и том же образце.
1.7. Число испытываемых проб, объем пробы, необходимый для проведения одного испытания для жидкого диэлектрического материала, должны выбираться в соответствии с ГОСТ 6581-75.
2. АППАРАТУРА
2.1. Измерение емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсатора должно проводиться на установках и приборах, удовлетворяющих следующим требованиям:
б) напряжение измерительной цепи должно иметь синусоидальную форму с постоянной амплитудой, а ее значение должно быть указано в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал и в любом случае не должна превышать напряжение ионизации. Колебания напряжения не должны превышать ±3%, а стабильность частоты напряжения должна быть такой, чтобы ее уход за время измерения был не более 1% изменяемой частоты. Основная погрешность установки частоты не должна превышать ±1%;
в) индикатор, используемый в качестве указателя равновесия моста, должен быть достаточно селективным, чтобы исключить влияние искажения формы кривой питающего напряжения. Ослабление второй гармоники по отношению к основной должно быть не менее 35 дБ;
(Измененная редакция, Изм. N 1)
.
а) объем измерительной камеры должен быть достаточным для размещения измерительной ячейки и обеспечивать возможность смены образца;
б) металлические элементы камеры должны быть стойкими к повышенной температуре и окислению, а также достаточно прочными. Наиболее приемлемыми для этой цели являются нержавеющая сталь и латунь;
в) конструкция камеры не должна ухудшать электрические свойства измерительной ячейки, собственная емкость измерительной ячейки должна быть минимальной и не меняться в процессе измерения;
г) измерительная камера должна обеспечивать равномерное распределение температуры по всему объему. Перепад температур в месте расположения образца не должен превышать 2 °С. При необходимости конструкция камеры должна предусматривать принудительное перемешивание воздуха;
д) измерительная ячейка и образец не должны подвергаться прямому облучению от нагревательных элементов;
е) система терморегулирования должна обеспечивать равномерное изменение температуры в камере со скоростью от 1 до 15 °С в минуту или поддержание температуры на постоянном уровне. Колебания температуры при ступенчатом нагреве в месте расположения образца во время измерения должны быть не более ±1 °С;
ж) измерение температуры должно проводиться термопарами или другими устройствами, обеспечивающими погрешность измерения не более ±1 °С. Термопары должны располагаться в максимальной близости от образца и не должны влиять на результаты измерений. В камере, рассчитанной на одновременное испытание нескольких образцов, термопары должны располагаться возле каждого образца;
з) при низких температурах необходимо предусматривать меры, исключающие конденсацию влаги на поверхности образца, электродах и изоляции (например, обдув парами жидкого азота).
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.3. Перечень измерительной аппаратуры приведен в справочном приложении.
3. ПОДГОТОВКА К ИСПЫТАНИЯМ
3.1. Нормализация и кондиционирование образцов проводятся в соответствии с требованиями, указанными в стандартах или другой нормативно-технической документации на материалы. При отсутствии таких указаний нормализация твердых образцов должна проводиться в нормальных климатических условиях по ГОСТ 6433.1-71 в течение 48 ч, а жидких - по ГОСТ 6581-75.
3.2. Электродные системы
3.2.1. При измерении допускается применять двухэлектродную или трехэлектродную систему в зависимости от применяемых средств измерений.
3.2.2. Трехэлектродную систему применяют для измерения во всем диапазоне частот. В трехэлектродной системе (табл.1) используют потенциальный электрод 1, измерительный электрод 2 и охранный электрод (охранное кольцо) 3.
Для трубчатых образцов ширина потенциального электрода должна быть от 7,5 до 30 см, ширина охранного электрода - не менее 1 см. Площадь измерительного электрода должна соответствовать площади круглого электрода, вычисленной из приведенного выше ряда.
Таблица 1
Размеры в см
|
|
Расположение электродов и образца | Межэлектродная емкость в вакууме  , пф |
Круглые электроды
 |  |
Цилиндрические электроды
 |  |
Черт.1
3.2.3. Двухэлектродную систему рекомендуется использовать, если приборы не позволяют подключение охранного электрода и поверхностной проводимостью образца можно пренебречь.
Размеры электродов выбираются в соответствии с п.3.2.2. В двухэлектродной системе (табл.2) электроды могут быть меньше образца или доходить до края образца.
Если электроды одинаковы и меньше чем образец, то они должны отстоять от края не менее чем на двойную толщину образца. При этом несоосность электродов не должна превышать 1% диаметра измерительного электрода.
Если электроды неодинаковы, то диаметр большего электрода должен превышать диаметр меньшего по крайней мере на двойную толщину образца.
Для получения доступа к полной версии без ограничений вы можете выбрать подходящий тариф или активировать демо-доступ.